儀器:135-0001-7008
標樣:191-9553-7296
廣州儀德公司專業(yè)代理日本理學波長色散X射線熒光光譜儀,在理學光譜上得到廣泛用戶的好評與支持,日本理學波長色散光譜儀應用非常的廣泛:電子和磁性材料、化學工業(yè)、陶瓷及水泥工業(yè)、鋼鐵工業(yè)、非鐵合金、地質礦產、石油和煤、環(huán)境保護。同時檢測材料狀態(tài)也比較比樣性:粉末樣品、塊狀樣品、液體樣品。

ZSXPrimusII波長色散X射線熒光光譜儀是理學公司新奉獻的上照射式X射線熒光光譜儀,是材料分析與評價的好幫手。
ZSXPrimusII是波長色散掃描式熒光光譜儀,分析精度高。
可以對4Be到92U進行定性、定量分析。
元素的檢量范圍從0.0001%~100%,如進行前處理,可以再下降2~3個數(shù)量級。
波長色散X射線熒光光譜儀主要特點:
1、大幅度提高了超輕元素(B,C)的分析靈敏度、準確度使用理學獨創(chuàng)的強度最高的分光晶體RX-25,RX-61,RX-75,保證輕元素分析的靈敏度采用APC自動真空控制機構,保證超輕元素分析的準確度(理學專利)使用4KW30um超薄窗、超尖銳、長壽命X光管,最適合超輕元素分析
2、采用新光學系統(tǒng),實現(xiàn)對重元素的高靈敏度分析
3、強大的粉末樣品測試功能上照式,可以長時間防止粉末污染分光室雙泵、雙真空設計(樣品室/預抽真空室),防止粉末樣品的細微粉塵混入分光室粉末附件,采用電磁閥真空密封,防止細微粉塵進入真空泵內
4、加裝CCD視頻攝像機構,位置分辨率可達100um,可以進行0.5mm的微區(qū)分析,可以測量Mapping(理學專利)
5、提高少量樣品的分析準確度使用r-θ樣品臺(理學專利),徹底解決了X射線照射不均以及分光晶體強度不均的問題,保證樣品在X射線最強、最佳條件下測量。
6、樣品室與分光室之間有專用隔膜裝置
7、48位自動進樣器
8、PAS自動調整脈沖高度系統(tǒng)(理學專利)ACC自動清洗F-PC芯線系統(tǒng)(理學專利)可以保證儀器在最佳狀態(tài)下使用
9、節(jié)約能源(自動減少X射線管的輸出);節(jié)約PR-10氣體;節(jié)約He氣(選用He室時);節(jié)省空間
10、自動監(jiān)控、自動開關機、自動節(jié)能等多功能操作軟件
11、先進的軟件分析,NEWSQX軟件
12、全中文界面
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